紫外分光光度計(jì)的系統(tǒng)組成原理
發(fā)布日期：2017-06-15 瀏覽次數(shù)：1985
紫外分光光度計(jì)按儀器工作原理的不同，有單光束分光光度計(jì)和雙光束分光光度計(jì)之分。為滿(mǎn)足紫外-真空紫外光學(xué)元件本體光譜傳輸特性測(cè)試的需要，并考慮到光學(xué)元件工作于紫外-真空紫外波段，為保證系統(tǒng)具有較高的信噪比，設(shè)計(jì)了一種紫外分光光度計(jì)，可以對(duì)直徑小于200mm的紫外-真空紫外光學(xué)元件本體進(jìn)行光譜傳輸特性測(cè)試，工作波段115~400nm，光譜分辨力0.5nm。
紫外分光光度計(jì)的系統(tǒng)組成原理：
紫外分光光度計(jì)由150w氘燈輻射源、前置超環(huán)面聚光鏡、紫外-真空紫外單色儀、后置反射光學(xué)系統(tǒng)、光學(xué)調(diào)制器、樣品/探測(cè)器轉(zhuǎn)臺(tái)、光電倍增管探測(cè)器、高壓電源、鎖相放大器、樣品/探測(cè)器轉(zhuǎn)臺(tái)掃描控制器、波長(zhǎng)掃描控制器、數(shù)據(jù)采集器及計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)組成，結(jié)構(gòu)如圖1所示。前置超環(huán)面聚光鏡將氘燈光源成像于紫外-真空紫外單色儀的入射狹縫，從單色儀出射狹縫出射的光經(jīng)后置反射光學(xué)系統(tǒng)準(zhǔn)直，照射到樣品。探測(cè)器圍繞樣品旋轉(zhuǎn)并測(cè)量，測(cè)量入射光直接照射探測(cè)器及經(jīng)樣品透射或反射后照射探測(cè)器的輸出信號(hào)，可給出樣品的光譜透射率、光譜反射率、光譜漫反射率及光柵效率等。單色儀波長(zhǎng)掃描、樣品/探測(cè)器掃描和數(shù)據(jù)采集處理在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行。在光路中加入起偏器，可進(jìn)行光學(xué)元件光譜偏振特性測(cè)試。引入光學(xué)調(diào)制器進(jìn)行光學(xué)斬波-鎖相放大，有利于提高電子學(xué)系統(tǒng)信噪比。鎖相放大器通過(guò)ieee-488接口與機(jī)算機(jī)相接，便于數(shù)據(jù)采集處理。
